3D Scatter Measurement System

RT300S

J&C Technology Co., Ltd.

BRDF / BTDF 기반 고정밀 3D 산란 특성 측정 시스템.
광원부터 검출까지 완전 모듈화된 구성으로
다양한 샘플의 광학 특성을 정밀하게 분석합니다.

10⁹ : 1
포토다이오드 동적 범위
0.1°
각도 분해능
360°
방위각 측정 범위
400–1700nm
확장 파장 범위
RT300S 장비 외관 — Goniometric BSDF
RT300S · Goniometric BSDF

정밀한 3D 산란 측정,
단 하나의 시스템으로

RT300S는 샘플 중심 회전 방식의 고정밀 광학 벤치 위에 구성된 BRDF/BTDF 측정 전용 시스템입니다.

🔬
BRDF / BTDF 동시 지원
반사(BRDF)와 투과(BTDF) 모두 측정 가능. 2D Iso-plot 및 Cross-section 시각화로 광학 특성을 직관적으로 분석합니다.
🎯
샘플 중심 회전 구조
프레임 전체가 샘플을 중심으로 회전하는 방식으로 입사각·반사각·방위각을 0.1° 단위로 정밀하게 제어합니다.
🧩
완전 모듈화 설계
광원(Halogen/Laser), 검출기(PD/Spectrograph), 샘플 스테이지 모두 독립 모듈. 필요에 따라 교체·업그레이드가 용이합니다.
📊
색도 분석 내장
XYZ, Lab, L*a*b*, Whiteness(ASTM E313), Yellowness(ASTM D1925/E313) 등 국제 표준 색도 분석을 소프트웨어에서 바로 지원합니다.
핵심 사양 요약
  • 광원 Halogen + Laser
    405 / 530 / 645 nm
  • 검출 파장 400 ~ 1100 nm
    확장 시 ~1700 nm
  • 동적 범위 (PD) 최대 10⁹ : 1
  • 동적 범위 (CCD) 기본 10³·⁵ / HDR 10⁶ : 1
  • 샘플 크기 ∅30 ~ ∅200 mm
  • 표준 반사판 97% 이상 (400~900 nm)

상세 사양

Rev. 5.1 기준. 부품 수급 상황 또는 고객 요구에 따라 일부 항목은 변경될 수 있습니다.

항목내용
크기30 × 30 × 150 mm
광원 종류Halogen, Laser
레이저 파장405 nm, 530 nm, 645 nm
스폿 크기 (표준)∅10 mm
스폿 크기 (소형 옵션)∅3 mm
항목내용
센서 타입고감도 실리콘 포토다이오드 (Silicon Photodiode)
감도 파장 범위400 ~ 1100 nm
확장 파장최대 1700 nm (옵션)
동적 범위최대 10⁹ : 1
직선성±1% 이하
기타증폭 모듈 (Preamplifier) 내장
항목내용
검출기고감도 CCD 어레이
파장 범위400 ~ 1000 nm
파장 해상도1 nm
파장 정확도±0.5 nm
동적 범위 (기본)> 10³·⁵ : 1
동적 범위 (HDR)> 10⁶ : 1
Stray Light< 0.5%
기능세부 설명
분석2D / 3D 반사율 및 투과율 분석
측정 모드일반 모드 (동일 각도 분해능) / Specular 모드 (경면 반사 고분해능)
색도 분석XYZ, Lab, L*a*b*, Whiteness (ASTM E313), Yellowness (ASTM D1925 / ASTM E313)
시각화2D Iso-plot / Cross-section
데이터 출력다양한 광학 설계 툴과 연동 (Export 지원)
항목내용
광학 벤치검출 모듈 (PD / Spectrograph 선택) / 시료 스테이지 / 제어 및 구동 시스템 (모터 제어 랙 포함)
프레임 구조샘플 중심 회전 기반의 고정밀 스캔
샘플 크기∅30 mm ~ ∅200 mm (소형 옵션 가능)
표준 반사판 반사율400~900 nm 구간에서 97% 이상
구조 특징모든 부품 모듈화 — 교체 및 업그레이드 용이

측정 기하학

입사각부터 방위각까지 0.1° 단위의 정밀한 각도 제어로 3D 산란 특성을 완전히 커버합니다.

θᵢ
입사각 (Incident Angle)
0° ~ 70°
분해능 0.1°
θᵣ
반사각 (Reflected Angle)
-85° ~ 85°
분해능 0.1°
φ
방위각 (Azimuth)
0° ~ 360°
분해능 0.1°

확장 옵션

기본 구성 외에 필요에 따라 광원 모듈과 분광기를 추가해 측정 범위를 확장할 수 있습니다.

광원 모듈
레이저 라이팅 모듈
Laser Lighting Module — NIR 확장 광원
  • 크기 30 × 30 × 150 mm
  • 파장 785 nm / 850 nm / 980 nm
  • 스폿 크기 ∅3 mm
  • 기존 광원 모듈과 동일 폼팩터로 교체 가능
분광기
Spectrograph — Extended NIR
InGaAs 어레이 기반 근적외선 확장 검출기
  • 검출기 고감도 InGaAs 어레이
  • 파장 범위 1000 ~ 1700 nm
  • 파장 해상도 5 nm
  • 파장 정확도 ±0.5 nm
  • 동적 범위 기본 10³·⁵ / HDR 10⁶ : 1
  • Stray Light < 0.5%

담당자 안내

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㈜ 제이앤시테크
J&C Technology Co., Ltd.
정윤모
기술영업이사

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